德國菲希爾庫侖法電解測試儀.

 德國菲希爾庫侖法電解測試儀.

COULOSCOPE® CMS2 和 COULOSCOPE® CMS2 STEP 根據庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差

COULOSCOPE® 儀器 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學 分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現 在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。 使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測量印刷線路板上剩余純錫的 厚度 COULOSCOPE® CMS2 CMS2 可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括 多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡單的操作和菜單化的操作指 導使 CMS2 成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解 決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近 100 個預留的 應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電 解速度（例如 1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程 式適用于多鍍層系統。 COULOSCOPE® CMS2 STEP CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時測定厚度 和電位差）。 在多層鎳的質量監控中用于對鍍層厚度 和電位差的標準化 STEP 測試 （根據 ASTMB764-94 和 DIN 50022）。鍍層厚度根據庫侖法得出， 而電位 差則由一個鍍有 AgCl 的銀電極得到。


使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測量印刷線路板上剩余純錫的 厚度 COULOSCOPE® CMS2 CMS2 可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括 多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡單的操作和菜單化的操作指 導使 CMS2 成為電鍍行業生產監控和質量檢驗理想的解 決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近 100 個預留的 應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電 解速度（例如 1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程 式適用于多鍍層系統。

系統概述 一個測量系統包括 COULOSCOPE® CMS2 或 CMS2 STEP 和一個有測量槽的支架（例如：STEP 測量槽）。 各種測量臺設計適合不同的應用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利，確保了安全的儲存 并為固定工件提供輔助。

固定工件的臺虎鉗，也同樣可以安裝在 V18 和 V24 的支撐板上 校準 校準時會產生一個修正系數 。這是由于測量槽密封墊子 的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要 該修正系數
COULOSCOPE CMS2 STEP 測量： 帶有球狀支撐和可旋轉支撐板的 V18 支架。測量槽存放架可存放 3 個 100ml 的實驗室瓶。


COULOSCOPE® CMS2 的應用

作為測量鍍層厚度的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經濟的替代方法。
應用 *并且用戶友好的 COULOSCOPE CMS2 適用于電鍍行 業的生產監控和成品的質量檢驗。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。 見的應用之一就是測量線路板上剩余的純錫，以確 保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料（ABS） 基材上，經常被用于高品質的浴室用品，也可以用這個 方法進行測量。

庫侖鍍層厚度測量法(DIN EN ISO 2177) 測量原理 這個系列儀器根據 DIN EN ISO 2177 標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關系。
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度： d: 鍍層厚度 [µm] eÄ: 電化學當量 [g/As] I: 電解電流 [A] γ: 電解效率 t: 電解時間 [s] A: 電解面積 [cm2] ρ: 電解鍍層材料密度 [g/cm3] 測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個泵攪拌電解液來使電解區域電解液平穩腐蝕，保證電 解液佳利用。 根據測量區域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇


COULOSCOPE® CMS2 STEP 的應用

STEP Test 是在允許腐蝕的情況下用來同時測量電位差和 多層鎳的鍍層厚度，該方法是這個應用領域的標準。 應用 多層鎳鍍層的品質控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚 度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為 這個目的而設計的，它操作簡單，參比電極使用起來 也不復雜，非常適合電鍍工廠苛刻環境下的這種應用。
電鍍鎳層用作電解保護和提高機器表面屬性，如硬度等。 特別是汽車工業中，電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很 高的要求。單一鎳層無法滿足該要求。因此，目前正在 開發非常復雜的鍍層系統，其中包含兩層、三層甚至四 層鍍鎳層，還有鉻或銅鍍層。

STEP Test 測量 (ASTM B764 --- 94 和 DIN EN ISO 2177) 測量原理 STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時測量鍍層厚度和化學電位 差）的簡寫，是已經標準化很久的測量方法。它可以同時 測量各鍍層厚度和多層鎳系統中兩層之間的電化學電位 差。 厚度測量時用庫侖法來測量，電位差通過外面鍍一 層 AgCl 的銀參比電極來測量。電壓曲線可以顯示在屏 幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。 為了獲得可以比較的穩定電位差測量結果，參比電極到 工件的距離必須始終保持不變。這個問題通過特殊的測 量槽得到解決。 銀參比電極被設計成一個圓錐形的環狀電極，并作為測 量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設計保證了 參比電極與工件之間的距離始終不變。


FISCHER 973-008 02/14 01-14 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik 71069 Sindelfingen, Germany Helmut Fischer AG and Helmut Fischer Technologie AG CH-6331 Hünenberg, Switzerland IfG-Institute for Scientific Instruments GmbH 12489 Berlin, Germany Fischer Instrumentation (GB) Ltd Lymington, Hampshire SO418JD, England Fischer Technology, Inc. Windsor, CT 06095, USA Helmut Fischer S. de R.L. de C.V. 76230 Querétaro, QRO, Mexico Fischer Instrumentation Electronique 78180 Montigny le Bretonneux, France Helmut Fischer S.R.L. 20099 Sesto San Giovanni (Milano), Italy Fischer Instruments, S.A. 08018 Barcelona, Spain Helmut Fischer Meettechniek B.V. 5627 GB Eindhoven, The Netherlands Fischer do Brasil 04561-001 São Paulo, Brazil Fischer Instruments K.K. Saitama-ken 340-0012, Japan Nantong Fischer Instrumentation Ltd Shanghai 200333, P.R. China Fischer Instrumentation (Far East) Ltd Kwai Chung, N.T., Hong Kong Fischer Measurement Technologies (India) Pvt. Ltd Pune 411036, India Fischer Instrumentation (S) Pte Ltd Singapore 658065, Singapore Helmut Fischer Korea Co., Ltd Seoul City, Republic of Korea Fischer Technology (M) SDN Bhd 47301 Petaling Jaya, Malaysia Helmut Fischer Thailand Co., Ltd Bangkok 10250, Thailand 德國菲希爾庫侖法電解測試儀